[发明专利]堆叠式半导体元件无效
申请号: | 200710302258.7 | 申请日: | 2007-12-24 |
公开(公告)号: | CN101207055A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 阿卡尔古德·西塔尔安 | 申请(专利权)人: | 奇梦达北美公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L25/18;H01L23/48 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余刚;尚志峰 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 使用第一工艺技术形成第一半导体芯片。在第一半导体芯片中形成多个通孔,以及使第一半导体芯片变薄,以使每个通孔都从芯片的上表面延伸至下表面。使用不同于第一工艺技术的第二工艺技术形成第二半导体芯片。第二半导体芯片在一个表面上具有多个触点。邻近于第二半导体芯片安装第一半导体芯片以使多个通孔中的一些电连接至多个触点中相关联的一些。 | ||
搜索关键词: | 堆叠 半导体 元件 | ||
【主权项】:
1.一种用于形成半导体元件的方法,所述方法包括:使用第一工艺技术形成第一半导体芯片,所述第一半导体芯片包括具有有源电路的上表面和与所述上表面相对的下表面;在所述第一半导体芯片中形成多个通孔;使所述第一半导体芯片变薄,以使至少在所述变薄之后,每个通孔都从所述上表面延伸至所述下表面;使用第二工艺技术形成第二半导体芯片,所述第二工艺技术不同于所述第一工艺技术,所述第二半导体芯片在一个表面上具有多个触点;以及邻近于所述第二半导体芯片安装所述第一半导体芯片,以使所述多个通孔中的一些通孔电连接至所述多个触点中相关联的一些触点。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造