[发明专利]封装结构及其形成方法无效

专利信息
申请号: 200710305812.7 申请日: 2007-12-24
公开(公告)号: CN101202263A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 刘千 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/495;H01L23/34;H01L21/60
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陆嘉
地址: 台湾省高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种封装结构及其形成方法。封装结构包括一导线架、一晶粒、一焊料层及数个连接组件。导线架包括一散热接垫及数个导脚。散热接垫设置于导线架实质上的中央位置。数个导脚围绕散热接垫设置。晶粒具有一主动表面,且此晶粒设置于导线架上。焊料层设置于主动表面与散热接垫间。数个连接组件设置于主动表面与导脚间。晶粒经由焊料层及此些连接组件电性连接于导线架。
搜索关键词: 封装 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种封装结构,该封装结构包括:导线架,包括:散热接垫,设置该导线架实质上的中央位置;及数个导脚,围绕该散热接垫设置;晶粒,具有主动表面,且该晶粒设置于该导线架上;焊料层,设置于该主动表面与该散热接垫间;以及数个连接组件,设置于该主动表面与该导脚间;其中,该晶粒经由该焊料层及该些连接组件电性连接该导线架。
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