[实用新型]天线测量系统及其发射天线结构无效

专利信息
申请号: 200720050904.0 申请日: 2007-04-28
公开(公告)号: CN201037856Y 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 周信辉 申请(专利权)人: 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司神达电脑股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;H01Q19/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528308广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种天线测量系统及其发射天线结构,天线测量系统包括一待测天线及一发射天线结构,其中,发射天线结构包括一反射组件、一发射源以及一阻抗结构,发射源用于朝向反射组件的抛物面发出一无线电波,再由抛物面将无线电波朝待测天线的方向辐射。由于无线电波经由反射组件辐射后成为平面波,因此,待测天线可在距离反射组件较短的范围内接收平面波,使本系统有效减少测量天线远场场型所需的空间。再者,本系统更藉由阻抗结构连接于抛物面外缘,以电性匹配反射组件,达到改善因抛物面而产生一边缘绕射干扰的情况。
搜索关键词: 天线 测量 系统 及其 发射 结构
【主权项】:
1.一种天线测量系统,其特征在于,包含:一待测天线;一反射组件,具有一抛物面,以供反射一无线电波;一发射源,用于朝该抛物面发出该无线电波;以及一阻抗结构,连接于该抛物面外缘,用以电性匹配该反射组件,以降低该抛物面产生一边缘绕射干扰的程度;其中,藉由该反射组件使该无线电波成为一平面波,以供该待测天线接收,作为测量该待测天线的依据。
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