[实用新型]低阻单晶寿命测试仪有效
| 申请号： | 200720059959.8 | 申请日： | 2007-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN201110882Y | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王昕;王世进;张郁华 | 申请（专利权）人： | 广州市昆德科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人： | 裘晖 |
| 地址： | 510640广东省广州市天河区五山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种低阻单晶寿命测试仪，该测试仪包括样品测试台、主机和示波器，样品测试台设置于主机的上面，主机与示波器连接，样品测试台底座上设有光源电极台和测试台支柱，测试台支柱底部设置有防滑套，测试台支柱上部设置有样品台悬臂，测试台支柱与样品台悬臂通过锁紧螺栓锁定，样品台悬臂与样品台连接，样品台悬臂侧部依次设有阻力调节旋钮、粗调手轮和微调手轮，样品台中间设有样品测量口，光源电极台中设有两弹性电极，中间为红外发光管出光口。本实用新型是一种可以测量电阻率低至0.03Ω·cm的锗单晶少子寿命的专用测试仪，同样可以用来测量低阻硅单晶少子寿命，本实用新型将少子寿命测量延伸到低阻10－2Ω·cm。 | ||
| 搜索关键词： | 低阻单晶 寿命 测试仪 | ||
【主权项】：
1、一种低阻单晶寿命测试仪，包括样品测试台、主机和示波器，所述主机包括高频源、红外发光管、取样器、检波器和宽频放大器，其特征在于：所述样品测试台设置于主机的上面，主机与示波器连接，所述样品测试台包括样品测试台底座、测试台支柱、光源电极台、样品台和样品台悬臂，所述样品测试台底座上设有光源电极台和测试台支柱，所述测试台支柱底部设置有防滑套，测试台支柱上部设置有样品台悬臂，测试台支柱与样品台悬臂通过锁紧螺栓锁定，样品台悬臂与样品台连接，所述样品台悬臂侧部依次设有阻力调节旋钮、粗调手轮和微调手轮，样品台中间设有样品测量口，所述光源电极台中设有两弹性电极，两弹性电极中间为红外发光管出光口。
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