[实用新型]为破坏晶圆表面电路的去除设备无效
申请号: | 200720119928.7 | 申请日: | 2007-04-29 |
公开(公告)号: | CN201040358Y | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
发明(设计)人: | 廖桂敏 | 申请(专利权)人: | 廖桂敏 |
主分类号: | B24C3/12 | 分类号: | B24C3/12;B24C1/04 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 | 代理人: | 张明 |
地址: | 台湾省台中市北屯*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种为破坏晶圆表面电路的去除设备,特别系指一种可在晶圆厂内破坏晶圆表面电路的去除设备,该去除设备包含有一去除装置、一输送装置、一入料装置及一出料装置,其中入、出料装置系设于输送装置两端,且输送装置可将晶圆加载去除装置内部,而去除装置系于输送装置之晶圆上方设有复数喷砂单元,喷砂单元系以水平方式进行喷砂,又去除装置于晶圆下方设有一抽风单元,其可利用抽风之风力使喷砂向下刮除、破坏晶圆表面之护层与电路,透过前述之间接喷砂之特殊设计,使其可直接于晶圆厂进行破坏晶圆表面电路布局的工作,以防止晶圆电路布局外泄。 | ||
搜索关键词: | 破坏 表面 电路 去除 设备 | ||
【主权项】:
1.为破坏晶圆表面电路的去除设备,其特征在于包含有:一去除装置,其系于内部上段设有复数喷砂单元,且各喷砂单元呈水平设备,使其砂粒呈水平状喷出的,去除装置内部下段设有一抽风单元,该抽风单元可将喷砂单元喷出的砂粒向下吸动,使砂粒改变喷射方向;一输送装置,其设于去除装置内,供将晶圆加载与移出去除装置内部,且输送装置穿设于去除装置的喷砂单元与抽风单元之间;一入料装置,其设于输送装置的入料端;一出料装置,其设于输送装置的出料端。
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