[实用新型]集成电路测试仪无效
| 申请号： | 200720148836.1 | 申请日： | 2007-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN201035124Y | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | 阎捷;高文焕;徐振英;张尊侨;金平;田淑珍;刘艳;任艳频;侯素芳;任勇 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R31/303 | 分类号： | G01R31/303 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李光松 |
| 地址： | 100084北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了属于电子元器件测试装置范围的一种集成电路测试仪。由稳压电源、脉冲发生器、数字电路测试模块、运算放大器测试模块、晶体管输出特性曲线测试模块、器件测试选择控制和错误告警电路组成；其中数字电路测试模块、运算放大器测试模块、晶体管输出特性曲线测试模块的输出各自通过反接二极管共接一个错误告警电路。该测试仪可以同时测试多个不同类型、不同型号的集成电路芯片，芯片的数量由用户根据需要设定。操作简单，显示明了，达到提高测试效率、大幅度降低测试成本的目的，使之成为一种有效的集成电路测试仪器；具有很高的实用价值和普遍的推广意义，同时价格能够被普通高校接受。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试仪 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试仪，其特征在于，所述集成电路测试仪由稳压电源(1)、脉冲发生器(3)、数字电路测试模块(4)、运算放大器测试模块(6)、晶体管输出特性曲线测试模块(8)、器件测试选择控制(9)和错误告警电路(5)组成；其中数字电路测试模块(4)、运算放大器测试模块(6)、晶体管输出特性曲线测试模块(8)的输出各自通过反接二极管(7)共接一个错误告警电路(5)；脉冲发生器(3)的各输出Fx和数字电路测试模块(4)的各输入Fx对应连接；正弦波发生电路(2)的输出接至运算放大器测试模块(6)的输入端；稳压电源1输出+12V、-12V、+5V分别和数字电路测试模块(4)、运算放大器测试模块(6)、晶体管输出特性曲线测试模块(8)的电源端连接，器件测试选择控制(9)由S1~S6六个DIP多位开关构成，分别接至数字电路测试模块(4)的三态输出门电路的控制端或运算放大器测试模块(6)中的测试状态输出的电源控制端，多位开关的各位顺序控制本行的各个测试插座。
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