[发明专利]测试装置以及测试方法

摘要

本发明提供一种对用于存储附加了错误订正符号的数据流的被测试存储器(以下称为DUT)进行有效测试的测试装置。该测试装置将从DUT读取的数据流所包含的各比特与期望值相比较。该比较结果作为表示DUT的每个存储单元是否合格的比特合格/失效信息被存储在第一失效存储器(以下称为FM)中。存储装置在每一页统计与期望值不一致的比特数，并在DUT的每一级别及每一页，判断与期望值不一致的比特数是否满足该级别的条件。该判断结果作为在每个级别表示各页是否合格的页合格/失效信息被存储在第二FM中。如果包含有对应某存储单元的比特的页满足某级别条件的比特合格信息存储在第二FM中，则测试装置将第一FM的比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值进行输出。

主权项

1、一种测试装置，其对用于存储在每一页附加有错误订正符号的数据流的被测试存储器进行测试，包括：测试处理部，其对于每一个作为错误订正单位的页，从所述被测试存储器读取存储于该页的所述数据流；逻辑比较器，将从所述被测试存储器中读取的所述数据流所包含的各比特值与该比特的期望值相比较；第一失效存储器，根据所述逻辑比较器的比较结果，对于所述被测试存储器的每个存储单元，存储表示该存储单元是否合格的比特合格/失效信息；数据错误计数部，对每一页统计与所述期望值不一致的比特数；页分类部，对于将所述被测试存储器根据质量进行分类的多个级别的每一个，对每一页判断与所述期望值不一致的比特数是否满足该级别的条件；第二失效存储器，根据所述页分类部的判断结果，对于所述多个级别的每一个，存储表示各页是否合格的页合格/失效信息；输出部，其对于所述多个级别的每一个，输出每个存储单元的所述比特合格/失效信息时，以具有与所述存储单元对应的比特的页满足该级别条件的所述页合格/失效信息存储在所述第二失效存储器中为条件，将从所述第一失效存储器输出的、表示该存储单元不合格的所述比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值并进行输出。