[发明专利]可测试的集成电路及集成电路的测试方法无效
| 申请号： | 200780002063.9 | 申请日： | 2007-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN101365956A | 公开（公告）日： | 2009-02-11 |
| 发明（设计）人： | 桑迪普库马尔·戈埃尔;何塞德耶稣·皮内达德干维兹;伦泽·I·M·P·迈耶 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 集成电路(200)包括通过一个或更多个开关(115)导电地耦合到电源线(110)的功能块(130)。该IC进一步包括在IC的测试模式中响应于测试启用信号以激活一个或更多个开关(115)的选择装置(220)，和诸如比较器(230)的评估装置，所述评估装置具有耦合到参考信号源(215)的第一输入和耦合到一个或更多开关(115)和功能块(130)之间的节点(225)的第二输入，用于基于参考信号和来自节点(225)的信号来评估一个或更多个开关(115)的行为。因此，本发明提供了一种用于测试功率开关的可测性设计解决方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路(200，300，400，500，600)，包括：功能块(130)，通过开关装置(115，125)导电地耦合到电源线(110，120)；选择装置(140，220，420)，响应于测试启用信号以激活开关装置(115，125)；和评估装置(230)，具有耦合到参考信号源(215)的第一输入，并具有耦合到开关装置(115，125)和功能块(130)之间的节点(225)的第二输入，用于基于参考信号和来自所述节点(225)的信号来评估开关装置(115，125)的行为。
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