[发明专利]测试接入端口开关无效
| 申请号： | 200780012646.X | 申请日： | 2007-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN101421633A | 公开（公告）日： | 2009-04-29 |
| 发明（设计）人： | 凯文·查尔斯·布尔克;菲利普·理查德·鲍狄埃;斯里尼瓦斯·瓦拉达拉詹 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种测试接入端口(TAP)开关在电子系统与所述电子系统外部的资源之间提供集中串行测试接口。所述电子系统包含所述TAP开关和多个电子电路组件，每一电子电路组件具有一耦合到所述TAP开关的TAP。在一个或一个以上实施例中，所述TAP开关包括第一电路，所述第一电路经配置以响应于包含在串行化指令中的选择代码(例如，后置或前置于所述指令的代码)向所述TAP中的选定一者提供时钟信号。所述TAP开关进一步包括：第二电路，其包括经配置以将所述TAP开关所接收的串行化指令传递到所述选定TAP的指令寄存器(IR)；和第三电路，其经配置以响应于所述选择代码将从所述选定TAP接收的串行化数据转发到所述TAP开关的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 接入 端口 开关 | ||
【主权项】：
1、一种用于提供对两个或两个以上测试接入端口进行接入的测试接入端口(TAP)开关，所述测试接入端口开关包括：第一电路，其经配置以响应于包含在由所述测试接入端口开关接收的串行化指令中的选择代码向所述测试接入端口中的选定一者提供时钟信号；第二电路，其包括经配置以将由所述测试接入端口开关接收的串行化指令传递到所述选定测试接入端口的指令寄存器(IR)；及第三电路，其经配置以响应于所述选择代码将从所述选定测试接入端口接收的串行化数据转发到所述测试接入端口开关的输出。
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