[发明专利]测量装置无效
| 申请号： | 200780019751.6 | 申请日： | 2007-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN101454661A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 汉诺·瓦赫尔尼希;阿希姆·赫格 | 申请（专利权）人： | 汉诺·瓦赫尔尼希 |
| 主分类号： | G01N27/453 | 分类号： | G01N27/453;B01L9/00;G01N21/05 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张 文;张春水 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量样品池中运动的样品颗粒的测量装置，例如用于测量颗粒的ζ电位或布朗值。所述测量装置具有安装在样品池两端的用于填充和排空样品池的填充装置和排空装置以及用于辐射和观察颗粒的辐射装置和观察装置。为了能够相对辐射装置和观察装置总是正确地或以确定的方式定位样品池，借助于样品池支座安装样品池的体部。并且填充和排空装置仅仅固定在样品池上，使得仅仅通过样品池支座来确定和限定样品池相对于周围环境的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种用于测量样品池(10)中运动的样品颗粒的测量装置，例如用于测量颗粒的ζ电位或布朗值，所述测量装置具有安装在样品池两端的用于填充和排空样品池(10)的填充装置(20)和排空装置(30)，以及用于辐射和观察颗粒的辐射装置(1)和观察装置(2)，其特征在于，借助于样品池支座(40)安装样品池(10)的体部(11)，并且填充装置(20)和排空装置(30)仅仅固定在样品池上，使得仅仅通过样品池支座(40)来确定/限定样品池(10)相对于其周围环境的位置。
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