[发明专利]支持扫描测试的逻辑装置和方法有效
申请号: | 200780023024.7 | 申请日: | 2007-06-18 |
公开(公告)号: | CN101473238A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 马丁·圣劳伦特;保罗·巴塞特;普拉亚格·帕特尔 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 刘国伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种逻辑装置包含数据输入、扫描测试输入、时钟多路分用器以及主锁存器。所述时钟多路分用器响应于时钟输入以选择性提供第一时钟输出和第二时钟输出。所述主锁存器耦合到所述数据输入和所述扫描测试输入且包含输出。所述主锁存器响应于所述时钟多路分用器的所述第一时钟输出和所述时钟多路分用器的所述第二时钟输出以将所述数据输入或所述扫描测试输入选择性耦合到所述输出。 | ||
搜索关键词: | 支持 扫描 测试 逻辑 装置 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种逻辑装置,其包括:数据输入;扫描测试输入;时钟多路分用器,其响应于时钟输入以选择性提供第一时钟输出和第二时钟输出;以及主锁存器,其耦合到所述数据输入和所述扫描测试输入,所述主锁存器包含输出,所述主锁存器响应于所述时钟多路分用器的所述第一时钟输出和所述时钟多路分用器的所述第二时钟输出以将所述数据输入或所述扫描测试输入选择性耦合到所述输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司,未经高通股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780023024.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学系统
- 下一篇:用于感测加速度的传感器