[发明专利]光学检测装置的性能确认方法及其使用的标准试剂

摘要

提供可对包括光学检测单元和温度控制单元的光学检测装置简单且可靠地确认一些性能、即光学信号的检测以及温度控制是否正确进行的方法。通过下述方法对具备检测待测物的光学信号的光学检测单元、控制待测物温度的温度控制单元的光学检测装置，确认光学信号的检测性能以及温度控制性能。首先，准备包含光学信号强度和Tm值为已知的核酸序列及其互补链的标准样品，通过上述温度控制单元使上述标准样品的温度上升或下降，而且通过上述检测单元测定上述标准样品的光学信号强度。另一方面，由伴随温度变化的上述光学信号强度的变化来确定上述标准样品的融解温度。分别对测得的上述标准样品的光学信号强度和上述标准样品的已知的光学信号强度、以及所确定的上述标准样品的融解温度和上述标准样品的已知的融解温度进行比较，来确认上述检测单元的光学信号的检测性能以及上述温度控制单元的温度控制性能是否正确。

主权项

1. 一种光学检测装置的性能确认方法，其特征在于，其为对具备检测试样的光学信号的检测单元和控制所述试样的温度的温度控制单元的光学检测装置，确认所述检测单元的光学信号检测性能和所述温度控制单元的温度控制性能的方法，包括下述(A)～(D)步骤：(A)准备包含已知其光学信号的强度和融解温度的核酸序列、及其互补链的标准样品的步骤；(B)通过所述温度控制单元来升高或降低所述标准样品的温度，且通过所述检测单元来测定所述标准样品的光学信号强度的步骤；(C)由随温度变化的所述光学信号强度的变化，来确定所述标准样品的融解温度的步骤；(D)分别对所述(B)步骤中测得的所述标准样品的光学信号强度和所述标准样品的已知光学信号强度、以及所述(C)步骤中确定的所述标准样品的融解温度和所述标准样品的已知融解温度进行比较，来确认所述检测单元的光学信号的检测性能以及所述温度控制单元的温度控制性能的步骤。