[发明专利]用于生成改进的衍射略图的系统和方法有效
| 申请号： | 200780033596.3 | 申请日： | 2007-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN101512385A | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | 杰弗里·哈丁 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 生成 改进 衍射 略图 系统 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种用于生成改进的衍射略图的系统，所述系统包括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；主准直仪，输出第一x射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点，所述主准直仪从所述x射线生成所述第一x射线束和第二x射线束；容器；以及第一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二组散射射线；其中由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。
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