[发明专利]半导体芯片形状改变无效
申请号: | 200780046560.9 | 申请日: | 2007-12-11 |
公开(公告)号: | CN101584042A | 公开(公告)日: | 2009-11-18 |
发明(设计)人: | M·G·法鲁克;D-Y·容;I·D·梅尔维尔 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于 静;李 峥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种改善的半导体芯片,该芯片减小了断裂的引发和断裂向半导体芯片有源区的传播。一种半导体晶片包括将半导体芯片分隔开的划片通道(102)和位于划片通道(102)的交叉处的、通过半导体芯片的一部分的孔(220)。一旦从半导体晶片上划片下来,就生成了不具有90度拐角的半导体芯片。 | ||
搜索关键词: | 半导体 芯片 形状 改变 | ||
【主权项】:
1.一种生成半导体芯片的方法,包括:在半导体晶片中生成孔(220),所述半导体晶片包括由划片通道(102)分隔开的多个半导体芯片,使得所述孔(220)生成在所述划片通道(102)的交叉处并通过半导体芯片的一部分;以及通过所述划片通道(102)和在所述划片通道(102)的交叉处的所述半导体芯片的所述部分进行划片。
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