[发明专利]插入件、托盘及电子元件测试装置无效
| 申请号： | 200780101506.X | 申请日： | 2007-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN101849190A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | 筬部明浩 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 插入件(710)具备：可在接近容纳于插入件的IC器件的上表面的闭位置和从容纳于插入件的IC器件的上表面退避的开位置之间移动的卡闩构件(731)，和将卡闩构件(731)可旋转地支撑于插入件主体(720)的支撑构件(733)，卡闩构件(731)至少在插入件(710)的平面视图上以支撑构件(733)为旋转中心旋转动作。 | ||
| 搜索关键词： | 插入 托盘 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种在电子元件测试装置内搬送的托盘上可微动地设置的、可容纳被测试电子元件的插入件，具备：可在接近容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的上表面的闭位置和从容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的上表面退避的开位置之间移动的卡闩构件，和将所述卡闩构件可旋转地支撑于插入件主体的支撑构件，所述卡闩构件至少在所述插入件的平面视图上以所述支撑构件为旋转中心旋转动作。
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