[发明专利]一具有标示结构之封装及其方法无效

专利信息
申请号: 200810000026.0 申请日: 2008-01-03
公开(公告)号: CN101232002A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 杨文焜 申请(专利权)人: 育霈科技股份有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L23/48;H01L23/36;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 北京挺立专利事务所 代理人: 叶树明
地址: 中国台湾新竹县湖*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一方法其具有一金属标示结构之半导体组件封装,其包含一具有晶粒容纳凹槽之基板,其形成于基板之上表面,以及一通孔结构通过此基板,其中具有一终端接点于通孔结构之下方,且此基板包含一导电线路形成于此基板之下表面;一晶粒黏着于晶粒容纳槽中,且具有复数个焊垫于其上;一第一介电层形成于晶粒与基板上方,且露出焊垫与通孔结构表面;一重布层形成于此第一介电层之上以耦合此焊垫与此通孔结构;一第二介电层形成于此第一介电层与此重布层线路之上;一金属标示层形成于此第二介电层之上;一散热层形成于金属标示层之上。
搜索关键词: 具有 标示 结构 封装 及其 方法
【主权项】:
1.一半导体组件封装,其特征在于:所述半导体组件封装,具有一标示结构,包含:一基板其具有一晶粒容纳凹槽于其上表面,且其结构中具有一通孔结构形成贯通,且具有一终端接点形成于此基板之下表面,以及导电线路形成于此基板之下表面;一晶粒黏着于此晶粒容纳凹槽且具有一复数个焊垫于其上;一第一介电层形成于此晶粒与此基板上,且露出此焊垫与此通孔之表面;一重布层形成于此第一介电层以耦合此焊垫与此通孔结构;一第二介电层形成于此第一介电层与此重布层线路;且一金属标示层形成于此第二介电层。
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