[发明专利]光图像计测装置有效

专利信息
申请号: 200810000227.0 申请日: 2008-01-24
公开(公告)号: CN101229053A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 阿部知好;林健史;冈田浩昭 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: A61B3/12 分类号: A61B3/12;A61B5/00;G01B11/24;G01B9/02
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 日本东京*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明是有关于一种光图像装置,可以容易地调整从导光元件的干涉光出射位置以及接收干涉光的受光面之间的位置关系。眼底观察装置(光图像计测装置)1具备照射状态指定部211,用以指定对CCD 184的受光面的计测光照射状态(照射位置、照射方向);光纤端驱动机构244,基于指定的计测光的照射状态,改变光纤165的光纤端165a的位置和方向。以此,可以自动地改变光纤165的光纤端165a和CCD 184的受光面间的相对位置和方向。以将光纤端165a和受光面配置在适当的位置关系的状态,实施眼底Ef的计测。
搜索关键词: 图像 装置
【主权项】:
1.一种光图像计测装置,其特征在于:包括:光源,输出低相干光;干涉光产生元件,将前述低相干光分割成信号光以及参照光,并使经由前述被测定物体的信号光和前述参照光重迭,以产生干涉光;导光元件,导引前述干涉光;分光元件,对前述导引的干涉光进行分光;受光元件,接收前述分光的干涉光,其中基于前述受光元件的受光结果,形成前述被测定物体的图像;指定元件,对经由前述导光元件和前述分光元件的光的前述受光元件的受光面的照射状态,进行指定;以及变更元件,基于前述照射状态,改变从前述导光元件的前述光的出射端以及前述受光面间的相对位置及/或方向。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社拓普康,未经株式会社拓普康许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810000227.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top