[发明专利]光图像计测装置有效
申请号: | 200810000227.0 | 申请日: | 2008-01-24 |
公开(公告)号: | CN101229053A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
发明(设计)人: | 阿部知好;林健史;冈田浩昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
主分类号: | A61B3/12 | 分类号: | A61B3/12;A61B5/00;G01B11/24;G01B9/02 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 日本东京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明是有关于一种光图像装置,可以容易地调整从导光元件的干涉光出射位置以及接收干涉光的受光面之间的位置关系。眼底观察装置(光图像计测装置)1具备照射状态指定部211,用以指定对CCD 184的受光面的计测光照射状态(照射位置、照射方向);光纤端驱动机构244,基于指定的计测光的照射状态,改变光纤165的光纤端165a的位置和方向。以此,可以自动地改变光纤165的光纤端165a和CCD 184的受光面间的相对位置和方向。以将光纤端165a和受光面配置在适当的位置关系的状态,实施眼底Ef的计测。 | ||
搜索关键词: | 图像 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光图像计测装置,其特征在于:包括:光源,输出低相干光;干涉光产生元件,将前述低相干光分割成信号光以及参照光,并使经由前述被测定物体的信号光和前述参照光重迭,以产生干涉光;导光元件,导引前述干涉光;分光元件,对前述导引的干涉光进行分光;受光元件,接收前述分光的干涉光,其中基于前述受光元件的受光结果,形成前述被测定物体的图像;指定元件,对经由前述导光元件和前述分光元件的光的前述受光元件的受光面的照射状态,进行指定;以及变更元件,基于前述照射状态,改变从前述导光元件的前述光的出射端以及前述受光面间的相对位置及/或方向。
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