[发明专利]成像装置和成像方法无效

专利信息
申请号: 200810002645.3 申请日: 2005-05-17
公开(公告)号: CN101232575A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 千叶卓也;滨野明;田中健二 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种成像装置和成像方法。在本发明的成像装置中提供了从成像器件接收信号的一种检测电路和一种控制器,判定信号电平超过预定缺陷判定电平的像素为缺陷像素,并且根据读出方法存储缺陷像素的地址。当成像器件对目标成像时,缺陷补偿电路对应于读出方法,读出存储的缺陷像素的地址,并且为缺陷像素执行预定的补偿处理。控制器存储缺陷像素的信号电平,并且对应于读出方法转化信号电平。结果是,当在一个方法中检测缺陷像素时,可以在多种方法中对缺陷像素进行补偿。
搜索关键词: 成像 装置 方法
【主权项】:
1.一种成像装置,包括:成像器件(205),该器件有多个像素组,每个像素组至少有一个像素;信号检测装置(211),用于从像素读出存储的电荷,并且输出具有信号电平的信号,该信号电平对应于读出的存储的电荷的量;缺陷检测装置(212),用于根据信号电平判定像素是否是缺陷像素;和控制装置(212),用于控制以第一种读出方法和第二种读出方法从所述成像器件的像素读出存储电荷,其中在第二种读出方法中,从像素读出存储的电荷,从而每个像素的电荷存储时间至少在部分像素组中与第一种读出方法不同,和其中对于所述读出方法,所述缺陷检测装置根据电荷存储时间设置缺陷判定电平,并且将信号电平大于缺陷判定电平的像素判定为缺陷像素。
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