[发明专利]用于实施IC器件测试的方法和设备有效
| 申请号： | 200810003653.X | 申请日： | 2008-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN101236233A | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | A·J·小格来戈里奇 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R31/303 | 分类号： | G01R31/303;G01R31/265;G01R31/27;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于静;李峥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于实施IC器件测试的方法和设备。一种用于测试集成电路器件的方法包括：在施加一个或多个测试信号期间，使所述集成电路器件经受施加的磁场，所述施加的磁场在包括所述集成电路器件的一种或多种材料中诱导磁致伸缩效应；以及确定归因于所述施加的磁场的所述集成电路器件内的任何缺陷的存在。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 实施 ic 器件 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试集成电路器件的方法，所述方法包括以下步骤：在施加一个或多个测试信号期间，使所述集成电路器件经受施加的磁场，所述施加的磁场在包括所述集成电路器件的一种或多种材料中诱导磁致伸缩效应；以及确定归因于所述施加的磁场的所述集成电路器件内的任何缺陷的存在。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司，未经国际商业机器公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810003653.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
