[发明专利]磁头特性评估方法无效
| 申请号： | 200810003884.0 | 申请日： | 2008-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN101251998A | 公开（公告）日： | 2008-08-27 |
| 发明（设计）人： | 泽田稔 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁头特性评估方法，其中，可以在不停止先前已经评估过的磁头的出厂的情况下检测测量设备的故障、对磁头进行重新评估，并停止测量操作。该磁头特性评估方法包括以下步骤：在存储装置中存储测量数据，该测量数据是通过测量设备测量的磁头的规定特性；基于所述测量数据检测所述测量设备是否存在故障；以及在该检测步骤中未检测到测量设备的故障时，评估磁头的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 磁头 特性 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁头特性评估方法，该方法包括以下步骤：在存储装置中存储测量数据，该测量数据是通过测量设备测量的所述磁头的指定特性；基于所述测量数据检测所述测量设备是否发生故障；以及在所述检测步骤中未检测到所述测量设备的故障时评估所述磁头的特性。
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