[发明专利]薄型晶体管结构和动态随机存取存储器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810005689.1 申请日: 2008-02-15
公开(公告)号: CN101510550A 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: 陈伟钧 申请(专利权)人: 茂德科技股份有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L23/522;H01L29/786;H01L21/8242;H01L21/768;H01L21/336
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 彭久云
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种具有薄型晶体管结构的动态随机存取存储器,其包括多个薄型晶体管以及深埋层连接区,其设于有源区。每一所述晶体管位于所述有源区中,并包括漏极区、源极区以及栅极区,其中所述漏极区与所述源极区位于所述栅极区的同一侧,两者为上下关系配置,且所述源极区位于大倾角注入区中。其中每一所述晶体管的所述漏极区通过所述深埋层连接区相互连接,形成位线。
搜索关键词: 晶体管 结构 动态 随机存取存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
1. 一种具有薄型晶体管结构的动态随机存取存储器,其包括:多个薄型晶体管,每一所述晶体管位于有源区中,并包括漏极区、源极区以及栅极区,其中所述漏极区与所述源极区位于所述栅极区的同一侧,两者为上下关系配置,且所述源极区位于大倾角注入区中;以及深埋层连接区,设于所述有源区;其中每一所述晶体管的漏极区通过所述深埋层连接区相互连接,形成位线。
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