[发明专利]半导体的封装结构和封装方法无效

专利信息
申请号: 200810008205.9 申请日: 2008-02-05
公开(公告)号: CN101504919A 公开(公告)日: 2009-08-12
发明(设计)人: 叶秀慧 申请(专利权)人: 叶秀慧
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56;H01L25/00;H01L23/488;H01L23/31
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;李丙林
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种球栅阵列封装结构及其封装方法。该封装结构包括:一个具有上表面和下表面的电路板,其上表面配置有图案化的导电接点,而下表面则配置有相应并与图案化的导电接点电连接的金属端点;接着,将半导体芯片的有源面上的多个焊垫与图案化的导电接点形成电连接;然后以一个封装体来包覆半导体芯片和电路板的上表面;最后,再将多个导电元件与电路板的下表面上的金属端点电连接。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 方法
【主权项】:
1. 一种球栅阵列封装结构的封装方法,包括:提供载板,其具有第一表面和第二表面;在所述载板的所述第一表面上形成高分子材料层,所述高分子材料层具有上表面和下表面,其中所述下表面形成于所述载板的所述第一表面上;在所述高分子材料层的所述上表面上形成多个图案化的导电接点,每一个所述导电接点具有正面和背面,并且所述导电接点的背面形成于所述高分子材料层的所述上表面;提供多个半导体芯片,每一个所述半导体芯片的有源面上配置有多个焊垫;贴附所述半导体芯片,将每一个所述半导体芯片的有源面上的所述焊垫与所述导电接点形成电连接;注入模流,以形成封装体用来包覆所述半导体芯片和所述高分子材料层的上表面;剥除所述高分子材料层和所述载板,以曝露出每一个所述导电接点的所述正面;形成多个导电元件并电连接至每一所述导电接点的所述正面;以及切割所述封装体,以形成多个完成封装的半导体结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于叶秀慧,未经叶秀慧许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810008205.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top