[发明专利]微型芯片检查系统、检查装置和计算机能读入的媒体无效
| 申请号： | 200810008553.6 | 申请日： | 2008-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101271069A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 泽住庸生;中岛彰久;山东康博 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N35/08;G01N33/50;C12Q1/68 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 魏晓刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种微型芯片检查系统、微型芯片检查装置和计算机能读入的媒体，包括：微型芯片，其至少含有目标物质和与所述目标物质特异结合而进行荧光标识的试剂，并使所述目标物质与所述试剂进行反应而在被检测部检测荧光强度；微型芯片收容部；光检测部；反应开始机构；控制部，其控制所述反应开始机构的反应开始时刻以及所述光检测部在反应前和反应后荧光强度的检测时刻，该微型芯片检查系统中所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述反应开始机构的所述反应开始时刻相对应。 | ||
| 搜索关键词： | 微型 芯片 检查 系统 装置 计算 机能 读入 媒体 | ||
【主权项】：
1、一种微型芯片检查系统，其特征在于，包括：a、微型芯片，其至少含有目标物质和与所述目标物质特异结合而进行荧光标识的试剂，并使所述目标物质与所述试剂进行反应而在被检测部检测荧光强度；b、微型芯片收容部，其能收容所述微型芯片；c、光检测部，其与所述微型芯片收容部所收容的微型芯片被检测部对应设置，且具有向所述被检测部照射激励光的发光部和接受来自所述被检测部荧光的受光部；d、反应开始机构，其使所述反应开始；e、控制部，其控制所述反应开始机构的反应开始时刻以及所述光检测部在反应前和反应后荧光强度的检测时刻，所述控制部使所述光检测部的反应前荧光强度的检测时刻与所述反应开始机构的所述反应开始时刻相对应。
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