[发明专利]自动外观检查装置无效
| 申请号： | 200810009746.3 | 申请日： | 2008-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN101246131A | 公开（公告）日： | 2008-08-20 |
| 发明（设计）人： | 河崎喜代司 | 申请（专利权）人： | 东丽工程株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 黄剑锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供不损失摄像倍率的自由性、并不受位移传感器电缆的存在对转换器动作的制约的自动外观检查装置。在用于检查对象工件(K)的外观的摄像之前进行自动对焦的自动外观检查装置具备：保持多个物镜(11)并选择某个物镜用于检查的转换器(53)；拍摄通过所选择的物镜获得的图像的摄像单元(51)；使位移传感器(12)在选择的物镜与对象工件之间进退的位移传感器进退单元(13)；预先存储物镜在对象工件上的基准位置(PB)上的最合适对焦位移作为基准位移(LB)的存储单元(81)；以及根据位移传感器测量到的到对象工件的位移(LS)、和存储在存储单元中的基准位移，沿上下方向驱动转换器，使物镜为最合适的对焦位移的上下方向驱动单元(6)。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 外观 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种自动外观检查装置(1)，以在对象工件(K)的外观检查用的摄像之前进行自动对焦的方式构成，其特征在于，具备：保持多个物镜(11)并且选择某个物镜(11)用于检查的转换器(53)；拍摄通过所选择的物镜(11)而获得的像的摄像单元(51)；使位移传感器(12)在所选择的物镜(11)与对象工件(K)之间进退的位移传感器进退单元(13)；预先存储对象工件(K)上的基准位置(PB)处的物镜(11)的最合适对焦位移作为基准位移(LB)的存储单元(81)；以及，根据位移传感器(12)测量到的到对象工件(K)的位移(LS)和存储在存储单元(81)中的基准位移(LB)，沿上下方向驱动转换器(53)，以使物镜(11)为最合适对焦位移的上下方向驱动单元(6)。
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