[发明专利]脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法无效
| 申请号： | 200810019918.5 | 申请日： | 2008-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101532960A | 公开（公告）日： | 2009-09-16 |
| 发明（设计）人： | 朱明俊;潘巧英;薛元祥;陈官容 | 申请（专利权）人： | 朱明俊 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 225500江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法，采用脉冲紫外光源周期性间断照射试样燃烧后生成的二氧化硫，再由检测器测量二氧化硫激发所发射的荧光，进而算出硫含量，所述脉冲紫外光源发出紫外光波长为190～230nm，间断式照射二氧化硫的每一周期中，照射时间为0.8～1.2秒，间断时间为4～6毫秒，利用匀速或周期性运动的遮光板交替式遮挡或透过紫外光。本发明用于固、液、气态各种样品中低硫测定，由于利用脉冲紫外光照射二氧化硫，使其由激发态回到基态时产生稳定的能量源，从而减少由能量变化引起的仪器基线噪声，因而有效提高检测灵敏度、准确度，测硫检测下限为10PPb。 | ||
| 搜索关键词： | 脉冲 紫外 荧光 测定 痕量 方法 | ||
【主权项】：
1、一种脉冲紫外荧光法测定痕量总硫的方法，采用检测器测量由紫外光源照射试样经燃烧后生成的二氧化硫激发所发射的荧光，进而算出硫含量，其特征是所述紫外光源为脉冲紫外光源，周期性间断式发出紫外光，每一周期中，紫外光照射二氧化硫的时间为0.8～1.2秒，停止照射的时间为4～6毫秒，紫外光波长为190～230nm。
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