[发明专利]一种高稳晶振的自动化测试方法和装置有效
| 申请号： | 200810065632.0 | 申请日： | 2008-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN101231321A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 傅小明;李宗安;刘学军;陈海林 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所 | 代理人： | 王永文 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高稳晶振的自动化测试方法和装置，其装置包括设置在印制电路板上的中央处理器、可编程逻辑器件、多个数模转换器、标准参考信号及多个高稳晶振器件；每个高稳晶振和所述中央处理器、所述可编程逻辑器件以及所述数模转换器构成一环路，用于计算需要测试的晶振指标，并与预先设定的晶振指标做比较，判断每一高稳晶振是否合格。本发明高稳晶振的自动化测试方法和装置由于采用了全自动的测试方法，操作更为简单，测试结果更为准确，测试速度更快。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高稳晶振 自动化 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种高稳晶振的自动化测试装置，其特征在于，包括设置在印制电路板上的中央处理器、可编程逻辑器件、一个或多个数模转换器，一个外部标准参考信号；每个高稳晶振和所述中央处理器、所述可编程逻辑器件以及所述数模转换器构成一环路，用于计算需要测试的晶振指标，并与预先设定的晶振指标做比较，判断每一高稳晶振是否合格。
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