[发明专利]利用图像分析检测机插元件的方法及系统

摘要

一种利用图像分析检测机插元件的方法及系统，所述方法包括如下步骤：采集通过机器自动插装元件的待检测电路板的位图格式图像P1；依次将图像P1中每个像素点P1(i)的红绿蓝三基色数据转换为表色数据Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)；依次将图像P1中每个像素点P1(i)的表色数据Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)分别与对应于待检测电路板的样本电路板的位图格式图像P0中对应像素点P0(i)的表色数据Y0(i)、Cr0(i)、Cb0(i)和Gray0(i)进行对比；若像素点P1(i)与像素点P0(i)之间的平均表色数据差值大于预设阈值，则判断像素点P1(i)与像素点P0(i)存在差异且标识该像素点P1(i)。本发明能准确检测并标识待检测电路板上多插、漏插和元件位置偏移等缺陷，为供检验人员提供了重要参考信息，并提高了检测效率和准确度。

主权项

1、一种利用图像分析检测机插元件的方法，其特征在于，包括步骤：采集通过机器自动插装元件的待检测电路板的位图格式图像P1；依次将图像P1中每个像素点P1(i)的红绿蓝三基色数据转换为表色数据Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)；依次将图像P1中每个像素点P1(i)的表色数据Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)分别与对应于待检测电路板的样本电路板的位图格式图像P0中对应像素点P0(i)的表色数据Y0(i)、Cr0(i)、Cb0(i)和Gray0(i)进行对比；若像素点P1(i)与像素点P0(i)之间的平均表色数据差值大于预设阈值，则判断像素点P1(i)与像素点P0(i)存在差异且标识该像素点P1(i)。