[发明专利]半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810074168.1 申请日: 2004-06-09
公开(公告)号: CN101281892A 公开(公告)日: 2008-10-08
发明(设计)人: 高尾幸弘 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/485;H01L21/60;H01L21/78
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置及其制造方法,该半导体装置具有可靠性高的BGA。在半导体衬底(51)的表面上形成焊盘电极(53),将玻璃衬底(56)粘接在半导体衬底(51)的表面上。自半导体衬底(51)的背面至焊盘电极(53)的表面形成通孔(VH)。在包括通孔(VH)内的半导体衬底(51)背面的整个面上形成绝缘膜(59)。在绝缘膜(59)上形成缓冲层(60)。通过蚀刻除去通孔(VH)底部的绝缘膜(59)。形成与焊盘电极(53)电连接并自通孔(VH)在缓冲层(60)上延伸的配线层(64)。在配线层(64)上形成导电端子(66)。然后,将半导体衬底(51)分割为多个半导体芯片(51A)。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体装置,其特征在于,包括:焊盘电极,其设于半导体衬底的第一主面;钝化膜,其覆盖所述焊盘电极;通孔,其使所述焊盘电极自所述半导体衬底的第二主面露出;配线层,其通过所述通孔与所述焊盘电极电连接。
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