[发明专利]X射线检查方法以及X射线检查装置无效
申请号: | 200810082497.0 | 申请日: | 2008-03-06 |
公开(公告)号: | CN101266217A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 益田真之;松波刚;小泉治幸 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01R31/303 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高龙鑫;马少东 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供能够选择性地对检查对象物的规定检查区域进行高速检查的X射线检查装置。X射线检查装置具有:扫描型X射线源,输出X射线;传感器基座,以旋转轴为中心旋转,安装有多个X射线传感器;图像获取控制机构,用于控制传感器基座的旋转角以及从X射线传感器获取图像数据。扫描型X射线源将X射线源的X射线焦点位置移动到放射X射线的各起点位置并放射X射线,其中,针对各X射线传感器,以使X射线透过检查对象的规定检查区域并入射到各X射线传感器的方式设定放射X射线的各起点位置。图像控制获取机构获取X射线传感器检测出的图像数据,运算部基于该图像数据,重建检查区域的图像。 | ||
搜索关键词: | 射线 检查 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
1.一种X射线检查方法,利用具有受光部的X射线检查装置,上述受光部通过照射X射线,利用多个检测面检测透过对象物的X射线,其特征在于,包括:指定上述对象物的检查部分的步骤;将X射线源的X射线焦点位置移动到放射上述X射线的各个起点位置,由此产生上述X射线的步骤,其中,针对上述多个检测面,以使上述X射线透过上述检查部分并入射到各上述检测面的方式,设定放射上述X射线的各个起点位置;在各上述检测面上检测透过上述检查部分的上述X射线的強度分布的步骤;基于所检测的上述強度分布的数据,重建上述检查部分的图像数据的步骤。
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