[发明专利]X射线检查方法以及X射线检查装置无效

专利信息
申请号: 200810082497.0 申请日: 2008-03-06
公开(公告)号: CN101266217A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 益田真之;松波刚;小泉治幸 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01R31/303
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 高龙鑫;马少东
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供能够选择性地对检查对象物的规定检查区域进行高速检查的X射线检查装置。X射线检查装置具有:扫描型X射线源,输出X射线;传感器基座,以旋转轴为中心旋转,安装有多个X射线传感器;图像获取控制机构,用于控制传感器基座的旋转角以及从X射线传感器获取图像数据。扫描型X射线源将X射线源的X射线焦点位置移动到放射X射线的各起点位置并放射X射线,其中,针对各X射线传感器,以使X射线透过检查对象的规定检查区域并入射到各X射线传感器的方式设定放射X射线的各起点位置。图像控制获取机构获取X射线传感器检测出的图像数据,运算部基于该图像数据,重建检查区域的图像。
搜索关键词: 射线 检查 方法 以及 装置
【主权项】:
1.一种X射线检查方法,利用具有受光部的X射线检查装置,上述受光部通过照射X射线,利用多个检测面检测透过对象物的X射线,其特征在于,包括:指定上述对象物的检查部分的步骤;将X射线源的X射线焦点位置移动到放射上述X射线的各个起点位置,由此产生上述X射线的步骤,其中,针对上述多个检测面,以使上述X射线透过上述检查部分并入射到各上述检测面的方式,设定放射上述X射线的各个起点位置;在各上述检测面上检测透过上述检查部分的上述X射线的強度分布的步骤;基于所检测的上述強度分布的数据,重建上述检查部分的图像数据的步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社,未经欧姆龙株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810082497.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top