[发明专利]修正光学邻近效应的方法无效

专利信息
申请号: 200810083026.1 申请日: 2008-03-18
公开(公告)号: CN101311825A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 崔在升 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: G03F1/14 分类号: G03F1/14
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 钱大勇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种修正光学邻近效应的方法可包含下列步骤:制造具有这些测试图案的测试光罩;使用该测试光罩,使这些图案投射在晶圆上;测量形成在晶圆上的这些图案的线宽;以及使用该所测量的线宽来执行模型校正并编写修正秘诀。可将晶圆的晶片的整个面积分割成多数个模板。可在多数个模板中的一个模板上执行光学邻近修正并可验证在另一模板上适当地执行光学邻近修正。可合并在通过验证的多数个模板上的数据并可使用该合并数据来编写最终数据。使用该最终数据可制造光罩。
搜索关键词: 修正 光学 邻近 效应 方法
【主权项】:
1.一种修正光学邻近效应的方法,包括:制造具有这些测试图案的测试光罩;使用该测试光罩,在晶圆上形成这些晶圆图案;测量形成在晶圆上的这些晶圆图案的线宽;使用该所测量的线宽来执行模型校正;使用该模型校正来编写修正秘诀;将该晶圆整个面积分割成多数个模板;在该多数个模板中的一个模板上执行光学邻近修正并验证于执行光学邻近修正期间,是否适当地执行在相异模板上所完成的光学邻近修正;合并在通过该验证的多数个模板上的数据并编写最终数据;以及使用该最终数据来制造光罩。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海力士半导体有限公司,未经海力士半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810083026.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top