[发明专利]一种半导体器件无效
申请号: | 200810084525.2 | 申请日: | 2008-03-21 |
公开(公告)号: | CN101419979A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
发明(设计)人: | 游明华;叶凌彦;李资良 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/10 | 分类号: | H01L29/10;H01L29/78;H01L27/092 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 红 |
地址: | 台湾省新竹市新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体器件,包含P型沟道金属氧化物半导体晶体管的漏极及源极区,位于衬底上,该P型沟道金属氧化物半导体晶体管包含第一应变层,位于该P型沟道金属氧化物半导体晶体管的漏极及源极区内,以及第一覆盖层,与该应变层接触;N型沟道金属氧化物半导体晶体管(NMOS)的漏极及源极区,位于该衬底上,该N型沟道金属氧化物半导体晶体管包含第二应变层,位于该P型沟道金属氧化物半导体晶体管的漏极及源极区内,以及第二覆盖层,与该应变层接触。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 | ||
【主权项】:
1、一种半导体器件,其特征在于,包含:衬底;沟槽,位于该衬底的漏极及源极间;应变层,位于该沟槽内,其中该应变层包含硅锗;以及覆盖层,与该应变层接触,其中该覆盖层包含硅、硼化硅其中之一或其组合。
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