[发明专利]测试电子部件的系统及其控制方法无效
| 申请号： | 200810087934.8 | 申请日： | 2008-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN101276213A | 公开（公告）日： | 2008-10-01 |
| 发明（设计）人： | 金宣吾;龙衡重;朴哲浚 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G05B19/04 | 分类号： | G05B19/04;G01R31/28;G11C29/56;G01B11/14;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;李云霞 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本公开涉及一种测试电子部件的系统及其控制方法，该系统能够根据插槽的位置变化自动检测插槽的位置以有效地测试电子部件。利用机器人自动测试电子部件的用于测试电子部件的系统包括：距离测量单元，测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和用于提供参考位置的参考块之间的距离；位置测量单元，检测参考块的位置信息；控制器，在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息，并利用所计算的插槽的位置信息控制机器人。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子 部件 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试电子部件的系统，该系统利用机器人自动测试电子部件，该系统包括：距离测量单元，测量安装在基底上用于测试电子部件的插槽和用于提供参考位置的参考块之间的距离；位置测量单元，检测参考块的位置信息；控制器，在所检测的参考块的位置信息的基础上，利用所测量的插槽和参考块之间的距离计算插槽的位置信息，并利用所计算的插槽的位置信息控制机器人。
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