[发明专利]成像装置、成像系统、其控制方法和其程序的存储介质有效
| 申请号： | 200810090078.1 | 申请日： | 2008-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN101282427A | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 竹中克郎;远藤忠夫;龟岛登志男;八木朋之;横山启吾 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/32 | 分类号： | H04N5/32;A61B6/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杨国权 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种成像装置、成像系统、其控制方法和其程序的存储介质。测量将偏压施加于转换元件之后直到用于得到图像的转换元件的累积的开始为止的空闲时间段和从累积的开始到累积的终止的累积时间段。通过使用基于测量的空闲时间段和累积时间段以及存储的暗电流响应特性计算的累积中的暗电流累积电荷量来进行图像的偏移校正。因而，即使刚在将偏压施加于转换元件之后，也可正确地进行偏移校正。提供一种成像装置，即使刚在将偏压施加于转换元件之后，该成像装置也可执行良好的放射照相，而不增加成本和尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 装置 系统 控制 方法 程序 存储 介质 | ||
【主权项】：
1、一种成像装置，包括：检测单元，包括在基底上按阵列布置的多个转换元件，这些转换元件用于将入射辐射或入射光转换为电信号，以得到基于该电信号的图像；存储器单元，用于存储基于在将偏压施加于转换元件之后的时间的检测单元的暗电流响应特性；第一时间段测量单元，用于测量第一时间段，第一时间段从偏压到转换元件的施加直到用于得到所述图像的转换元件的累积的开始为止；第二时间段测量单元，用于测量第二时间段，第二时间段从累积的开始直到累积的结束为止；累积电荷量算术运算单元，用于基于暗电流响应特性以及第一和第二时间段来计算包括在累积中的暗电流累积电荷量；和图像处理单元，基于暗电流累积电荷量进行得到的图像的偏移校正。
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