[发明专利]制造记忆体的方法、记忆装置及操作存取记忆装置的方法有效

专利信息
申请号: 200810100436.2 申请日: 2008-06-11
公开(公告)号: CN101355030A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 吴昭谊 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/336;H01L29/78;G11C11/4063;G11C16/10;G11C16/14
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种制造记忆体的方法、记忆装置及操作存取记忆装置的方法,是揭露一种具有至少一多阶记忆单元的记忆装置,以及每一多阶记忆单元被组设来储存n个位元(而n是一整数),其中该复数位元是储存至一电荷储存层,而藉由施加一电压来设定或重置该记忆单元的临界电压Vt至2n阶层之一,来捕捉注射出的电荷载子。每一记忆单元可以程式化至一复数个2n阶层之一,其中每一阶层代表n个位元。本发明的制造记忆体的方法,尤其可以用来制造挥发性记忆体。本发明的新的记忆装置,尤其可以利用于挥发性记忆体。本发明的操作存取记忆装置的方法,可以用来操作上述的记忆装置,能够达成在记忆单元中储存多位元的方法。
搜索关键词: 制造 记忆体 方法 记忆 装置 操作 存取
【主权项】:
1、一种制造记忆体的方法,其特征在于其包括以下步骤:一基板;一电荷储存层,形成于该基板之上与该基板直接接触;一绝缘层,形成于该电荷储存层之上;以及一多晶硅层,形成于该绝缘层之上。
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