[发明专利]光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法有效
| 申请号： | 200810109795.4 | 申请日： | 2004-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN101312063A | 公开（公告）日： | 2008-11-26 |
| 发明（设计）人： | 黄盛熙;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/007 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;邱玲 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质，包括用户数据区和SA/DL区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 再现 设备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设备，所述设备包括：写/读单元，将数据写到光学记录介质上和/或从光学记录介质读取数据；控制单元，从光学记录介质检测连续缺陷块，并产生连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括分别与连续缺陷块中的第一缺陷块和最后缺陷块相应的开始条目和结束条目。
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