[发明专利]一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 200810115885.4 | 申请日： | 2008-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN101303384A | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | 邱勇;张柳青;高裕弟;应根裕 | 申请（专利权）人： | 清华大学;北京维信诺科技有限公司;昆山维信诺显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法，本发明之响应速度测试装置包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器；所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。本发明针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 响应 电子器件 速度 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器，所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各感应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。
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