[发明专利]针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法无效

专利信息
申请号: 200810118735.9 申请日: 2008-08-20
公开(公告)号: CN101656535A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 张琨;周华兵;陈陵都;刘忠立 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H03K19/177 分类号: H03K19/177
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法,该方法包括映射和合并两个步骤,首先对输入的与具体工艺无关的门级电路网表进行解析,并对解析的结果进行工艺映射,然后再根据多模式LC的约束信息对工艺映射结果进行合并处理,计算出多模式LC的模式配置值,得到最终优化的工艺相关的电路网表。利用本发明,解决了多模式逻辑单元结构FPGA的工艺映射问题,充分利用了基于两个LUT3的LC结构的优势。
搜索关键词: 针对 模式 逻辑 单元 可编程 门阵列 工艺 映射 方法
【主权项】:
1、一种针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法,其特征在于,该方法包括映射和合并两个步骤,首先对输入的与具体工艺无关的门级电路网表进行解析,并对解析的结果进行工艺映射,然后再根据多模式LC的约束信息对工艺映射结果进行合并处理,计算出多模式LC的模式配置值,得到最终优化的工艺相关的电路网表。
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