[发明专利]半导体集成电路装置无效
申请号: | 200810129553.1 | 申请日: | 2008-06-30 |
公开(公告)号: | CN101335277A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 三谷仁 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L23/522;G11C17/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陆锦华;黄启行 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体集成电路装置包括:具有在其上形成PROM(22)的衬底(10),其中,通过光的照射改变PROM(22)的数据存储状态,以及在与形成PROM(22)的衬底(10)的同一侧上形成的多层布线结构(70)。多层布线结构(70)包括透明区域(80)、屏蔽区域(30)以及PAD部件(60)。透明区域(80)在与形成PROM(22)的PROM区域(20)相对的位置上由透明材料形成,并且作为从多层布线结构(70)至PROM(22)的导光路径。屏蔽区域(30)由设置在透明区域(80)外围的数层中的屏蔽材料连续地形成。PAD部件(60)在与透明区域(80)相关的屏蔽区域(30)的外部形成,并且控制PROM(22)的存储状态。 | ||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体集成电路装置,包括:衬底,具有在其上形成的半导体存储元件,所述半导体存储元件的数据存储状态通过光的照射而改变;以及多层布线结构,在所述衬底的形成所述半导体存储元件的同一侧上形成;其中,所述多层布线结构包括:透明区域,在与形成所述半导体存储元件的元件区域相对的位置处由透明材料形成,所述透明区域用作从所述多层布线结构的外部至所述半导体存储元件的导光路径;屏蔽区域,由在所述透明区域的外围中设置在数层中的屏蔽材料连续地形成;以及电极,控制所述半导体存储元件的存储状态,所述电极在与所述透明区域相关的所述屏蔽区域的外部形成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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