[发明专利]存储装置读取方法、系统和存储装置测试设备有效

专利信息
申请号: 200810134295.6 申请日: 2008-08-04
公开(公告)号: CN101339812A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 何再生 申请(专利权)人: 炬力集成电路设计有限公司
主分类号: G11C29/18 分类号: G11C29/18
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 宋志强;麻海明
地址: 519085广东省珠海市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种存储装置读取方法,包括:读取控制装置创建指向存储装置起始地址位置的指针;以所述指针指向的地址位置为起点,连续读取指定数量的地址位置所包含的信息;将指针指向与本次最后读出的信息所在地址位置相邻的下一个地址位置,返回执行所述以所述指针指向的地址位置为起点并连续读取指定数量的地址位置所包含的信息,直到读出所述存储装置中的所有信息。本发明还同时公开了一种存储装置读取系统和一种存储装置测试设备。本发明实施例提供的存储装置读取方法和系统,以及存储装置测试设备,能够提高引脚利用率,降低封装和芯片成本。
搜索关键词: 存储 装置 读取 方法 系统 测试 设备
【主权项】:
1、一种存储装置读取方法,所述读取的系统包括读取控制装置和存储装置,其特征在于,该方法包括:所述读取控制装置创建指向所述存储装置起始地址位置的指针;以所述指针指向的地址位置为起点,连续读取指定数量的地址位置所包含的信息;将指针指向与本次最后读出的信息所在地址位置相邻的下一个地址位置,返回执行所述以所述指针指向的地址位置为起点并连续读取指定数量的地址位置所包含的信息,直到读出所述存储装置中的所有信息。
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