[发明专利]用于多芯片平面封装的方法有效
申请号: | 200810136332.7 | 申请日: | 2008-11-27 |
公开(公告)号: | CN101431034A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 刘建强;郭涛;苗新利;范波 | 申请(专利权)人: | 江苏康众数字医疗设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215125江苏省苏州市工业园区星*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于多芯片平面封装的方法,它包括拼放工序、粘接工序、互连工序、钝化工序,其中拼放工序是利用一拼放装置将多个芯片拼放在该装置的拼放平台上,并使得各个芯片的相对坐标位置满足预加工产品的设定要求;粘接工序是将拼放好的多个芯片进行填缝,并粘接到涂有粘接材料的基板上;互连工序为利用喷墨打印方法或光刻方法实现对粘接在一起的多个芯片进行金属导线互连;钝化工序为将互连导线之后的多个芯片放置于涂胶装置上涂上钝化胶,固化,实现对多个芯片的钝化,即完成对多个芯片的平面封装;该种封装方法能够对各种不同类型的芯片进行封装;此方法可应用于大尺寸的无缝显示图像传感器制作以及多芯片的系统集成上。 | ||
搜索关键词: | 用于 芯片 平面 封装 方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于多芯片平面封装的方法,其特征在于:该方法通过A方案或B方案实现,其中,A方案包括如下步骤:(1)拼放工序:利用一拼放装置将多个芯片拼放在该装置的拼放平台上,并使得各个芯片的相对坐标位置满足预加工产品的设定要求;(2)粘接工序:将拼放好的多个芯片经过转移过程一起转移到一过渡盘上,再对位于该过渡盘上的多个芯片之间的间隙进行填缝,再将填好缝的多个芯片一起粘接到涂有粘接材料的基板上,其中,在此工序中要始终保持各芯片之间的相对坐标位置不变;(3)互连工序:利用喷墨打印方法或光刻方法实现对粘接在一起的多个芯片进行金属导线互连;(4)钝化工序:将互连导线之后的多个芯片放置于涂胶装置上涂上钝化胶,固化,实现对多个芯片的钝化,即完成对多个芯片的平面封装;B方案包括如下步骤:(1)拼放工序:利用一拼放装置将多个芯片拼放在该装置的拼放平台上,并使得各个芯片的相对坐标位置满足预加工产品的设定要求;(2)粘接工序:利用粘接材料对多个芯片之间的间隙进行填缝,再将填好缝的多个芯片经过转移过程转移到一过渡盘上,再将位于该过渡盘上的多个芯片一起粘接到涂有粘接材料的基板上,其中,在此工序中要始终保持各芯片之间的相对坐标位置不变;(3)互连工序:利用喷墨打印方法或光刻方法实现对粘接在一起的多个芯片进行金属导线互连;(4)钝化工序:将互连导线之后的多个芯片放置于涂胶装置上涂上钝化胶、固化,实现对多个芯片的钝化,即完成对多个芯片的平面封装。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造