[发明专利]器件制造方法有效
申请号: | 200810145610.5 | 申请日: | 2008-08-05 |
公开(公告)号: | CN101388326A | 公开(公告)日: | 2009-03-18 |
发明(设计)人: | 中村胜 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/78;H01L21/58;B28D5/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 坚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种器件制造方法,其能把芯片焊接用粘接膜在不使器件质量降低的情况下安装到器件背面。该器件制造方法具有以下工序:粘接膜安装工序,把粘接膜安装到晶片的背面,其中晶片在表面上在由形成为格子状的分割预定线划分而成的多个区域中,分别形成有器件;晶片支撑工序,把安装有粘接膜的晶片的粘接膜侧粘贴到切割带的表面上;晶片切削工序,把粘贴在切割带表面上的晶片的切割带侧,保持到切削装置的卡盘工作台上,使用切削刀具沿着分割预定线切断晶片,其中切削刀具具有外周部的截面形状呈V字状的环状切削刃;和粘接膜断裂工序,在实施晶片切削工序后使切割带扩展,使张力作用于粘接膜,使粘接膜沿着形成于晶片上的切削槽断裂。 | ||
搜索关键词: | 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种器件制造方法,其特征在于,上述器件制造方法具有以下工序:粘接膜安装工序,把粘接膜安装到晶片的背面,其中,上述晶片在表面上在由形成为格子状的分割预定线划分而成的多个区域中,分别形成有器件;晶片支撑工序,把安装有上述粘接膜的晶片的粘接膜侧,粘贴到安装于环状框架的切割带的表面上;晶片切削工序,把粘贴在上述切割带表面上的晶片的上述切割带侧,保持到切削装置的卡盘工作台上,使用切削刀具沿着上述分割预定线切断晶片,其中上述切削刀具具有外周部的截面形状呈V字状的环状切削刃;以及粘接膜断裂工序,在实施上述晶片切削工序之后,使上述切割带扩展,使张力作用于上述粘接膜,使上述粘接膜沿着形成于晶片上的切削槽断裂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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