[发明专利]一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置有效
申请号: | 200810146665.8 | 申请日: | 2008-09-04 |
公开(公告)号: | CN101668302A | 公开(公告)日: | 2010-03-10 |
发明(设计)人: | 谭建华;许祥滨;操赛文;汤顺;范博源 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/06 | 分类号: | H04W24/06 |
代理公司: | 信息产业部电子专利中心 | 代理人: | 梁 军 |
地址: | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法和装置,其中该装置包括多径产生单元、多径管理单元,其中,多径产生单元,用于建立虚拟测试UE,在预定数目范围内产生随机数目的多径,确定多径的相位与时延,并控制搜索窗起始位置,以及控制搜索窗向右或向左漂预定步进长度;多径管理单元,用于向虚拟测试UE添加多径,并通知被测试的基带处理芯片开始解调,以及根据上次与本次多径产生单元产生的多径情况,对多径进行动态管理。本发明能够模拟移动终端在真实环境中穿行,大大提高了测试覆盖率与测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测试 无线 基站 基带 处理 芯片 解调 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于测试无线基站侧基带处理芯片多径解调的方法,其特征在于,包括下列步骤:步骤A:建立虚拟测试UE,并设置多径搜索窗起始位置,在预定数目范围内产生随机数目的多径;步骤B:向所述虚拟测试UE添加上述步骤A产生的多径,被测试的基带处理芯片开始解调;步骤C:不断产生新的多径,所述新产生的多径落在所述多径搜索窗内,所述搜索窗起始位置向右或向左漂预定步进长度;步骤D:对所述虚拟测试UE的多径进行管理,被测试的基带处理芯片开始解调;步骤E:重复步骤C、步骤D,直到搜索窗起始位置漂移到预定位置。
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