[发明专利]一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法

摘要

本发明涉及一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法，其使用X射线曝光方程式，选取小径管环焊缝X射线探伤的曝光参数，对X射线探伤灵敏度、厚度宽容度及底片黑度的控制，起到了良好的效果。其采用方案为：(1)利用原来曝光曲线，选择若干带有估计性的曝光参数，对小径管环焊缝进行透照，得到若干X射线底片；(2)从X射线底片中，选出技术参数满足要求的底片；记录下每张底片的管电压V、曝光时间t、透照厚度TA；把V作为应变量，把TA、t作为自变量，在坐标纸上将每一组数据V、T、t用叉点作成散点图，观察得出X射线曝光原始方程式为：V＝＝a₀+a₁t+a₂TA，这个原始方程式方程在几何上表示一个平面，可解决曝光曲线中变化参数无法连续的问题。

主权项

1、一种利用X射线曝光方程式选取曝光参数的方法，其特征在于：(1)在现场实际使用中，利用原来曝光曲线，选择若干带有估计性的曝光参数，对小径管环焊缝进行透照，得到若干X射线底片；(2)从这些X射线底片中，选择出技术参数满足要求的X射线底片底片；记录下每张底片的管电压V；曝光时间t；透照厚度TA；把V作为应变量，把TA；t作为自变量，在坐标纸上将每一组数据V、T、t用叉点作成散点图，观察散点图，得出X射线曝光原始方程式如下：V＝＝a0+a1t+a2TA这个X射线曝光原始方程式方程，在几何上表示一个平面，可解决曝光曲线中变化参数无法连续的问题；(3)用最小二乘法原理来确定代定系数a0、a1、a2。为使离正确曲线误差最小，即使：φ(a0、a1、a2)＝∑(V-a0-a1t-a2TA)2达到极小值，为此分别对a0、a1、a2求偏微商，并令其等于零，得正规方程：{l11a1+l12a2＝＝l1V a0＝＝V-a1t-a2TA{l21a1+l22a2＝＝l2V其中：l11＝＝∑tm 2-1//N(∑tm)(∑tm)l12＝＝∑tmTAm-1//N(∑tm)(∑TAm)＝＝l21 l22＝＝∑TAm2-1/N(∑TAm)(∑TAm)V＝＝1//N∑Vm；TA＝1/N∑TA m；t＝＝1//N∑tm l1V＝＝∑Vmtm-1//N(∑tm)(Vm)l2V＝＝∑VmTAm-1//N(∑TAm)(∑Vm)；(4)解此方程组，就可以得到待定系数a0、a1、a2；(5)将待定系数a0、a1、a2代入X射线曝光原始方程式中，即可得到X射线曝光方程式。