[发明专利]决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置有效
| 申请号： | 200810178377.0 | 申请日： | 2008-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN101739062A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 简志升 | 申请（专利权）人： | 华硕电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/08 | 分类号： | G06F1/08;G06F11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 郭蔚 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置，其中电子装置至少包括中央处理单元以及存储器模块，且存储器模块包括多个品质参数并工作于第一频率。方法包括下列步骤：执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率；调整一个品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行一存储器测试，以得到品质参数的上限值与下限值，进而决定出信号品质参数的最佳值。 | ||
| 搜索关键词： | 决定 存储器 模块 控制 信号 品质 参数 方法 及其 电子 装置 | ||
【主权项】：
一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，适用于电子装置，其中上述电子装置至少包括中央处理单元以及包括多个品质参数并工作于第一频率的存储器模块，其特征是，上述方法包括下列步骤：执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率，其中上述中央处理单元超频程序用以调整上述中央处理单元的频率；将上述中央处理单元的频率调整至上述最高中央处理单元频率，致使上述存储器模块工作于第二频率，其中上述第二频率高于上述第一频率；调整至少一个上述品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行存储器测试，以得到上述品质参数的上限值与下限值；以及利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值，决定出上述品质参数的最佳值。
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