[发明专利]多芯片封装结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810181585.6 申请日: 2008-11-25
公开(公告)号: CN101740552A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 周世文 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L25/18;H01L25/065;H01L23/488;H01L21/60
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种多芯片封装结构,其包括一承载器、一第一芯片、一中继线路基板、多条第一焊线、多条第二焊线、一第二芯片、多条第三焊线及一粘着层。第一芯片配置于承载器上。中继线路基板配置于第一芯片上。第一焊线电性连接第一芯片与中继线路基板之间。第二焊线电性连接于中继线路基板与承载器之间。第二芯片配置于承载器上,并与第一芯片相堆叠。第三焊线电性连接于第二芯片与承载器之间。粘着层粘着于第一芯片与第二芯片之间。此外,一种多芯片封装结构的制造方法亦被提出。
搜索关键词: 芯片 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种多芯片封装结构,包括:一承载器;一第一芯片,配置于该承载器上;一中继线路基板,配置于该第一芯片上;多条第一焊线,电性连接该第一芯片与该中继线路基板之间;多条第二焊线,电性连接于该中继线路基板与该承载器之间;一第二芯片,配置于该承载器上,并与该第一芯片相堆叠;多条第三焊线,电性连接于该第二芯片与该承载器之间,其中该些第一焊线、该些第二焊线及该些第三焊线位于该承载器的同一侧;以及一粘着层,粘着于该第一芯片与该第二芯片之间。
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