[发明专利]电介质瓷器组合物和电子部件有效

专利信息
申请号: 200810183711.1 申请日: 2008-12-11
公开(公告)号: CN101456727A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 阿满三四郎;宫内真理;关秀明 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: C04B35/468 分类号: C04B35/468
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 熊玉兰;李平英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供电介质瓷器组合物和电子部件,所述电介质瓷器组合物含有BaTiO3和BaZrO3,该电介质瓷器组合物的特征在于,由2个以上的电介质粒子(20)和晶界相(30)构成,设以BaTiO3为主成分的电介质粒子(20)为第1电介质粒子(21)、以BaZrO3为主成分的电介质粒子(20)为第2电介质粒子(22)、第1电介质粒子(21)的平均结晶粒径为D1、第2电介质粒子(22)的平均结晶粒径为D2时,D2与D1之比(D2/D1)为0.04~0.33、D2为0.02μm~0.25μm、第2电介质粒子(22)的总个数与第1电介质粒子(21)的总个数之比为0.10~2。根据本发明,能够提供击穿电压良好、适合用于额定电压高(例如100V以上)的中高压用途的电介质瓷器组合物。
搜索关键词: 电介质 瓷器 组合 电子 部件
【主权项】:
1、一种电介质瓷器组合物,其是具有BamTiO2+m和BanZrO2+n的电介质瓷器组合物,其中,m满足0.99≦m≦1.01,n满足0.99≦n≦1.01,其特征在于,上述电介质瓷器组合物由2个以上的电介质粒子和存在于相邻接的上述电介质粒子间的晶界相构成,当设以BamTiO2+m为主成分的上述电介质粒子为第1电介质粒子、以BanZrO2+n为主成分的上述电介质粒子为第2电介质粒子、上述第1电介质粒子的平均结晶粒径为D1μm、上述第2电介质粒子的平均结晶粒径为D2μm时,上述D2与上述D1之比D2/D1为0.04~0.33,上述D2为0.02μm~0.25μm,上述电介质瓷器组合物中,上述第2电介质粒子的总个数与上述第1电介质粒子的总个数之比为0.10~2。
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