[发明专利]对位检测方法和对位检测装置无效
| 申请号： | 200810202473.4 | 申请日： | 2008-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN101403829A | 公开（公告）日： | 2009-04-08 |
| 发明（设计）人： | 李英俊;张爱云 | 申请（专利权）人： | 友达光电（苏州）有限公司;友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;H05K13/08 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所 | 代理人： | 翟 羽 |
| 地址： | 215021江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种对位检测方法和对位检测装置。此对位检测方法包括对位芯片的芯片对准标记于透光基板的基板对准标记上；利用第一检测单元来穿透过芯片，而撷取芯片对准标记的位置；利用第二检测单元来穿透过透光基板，而撷取基板对准标记的位置；以及比对芯片对准标记的位置与基板对准标记的位置。本发明的对位检测方法和对位检测装置可确实地检测芯片是否准确地对位于透光基板上。 | ||
| 搜索关键词： | 对位 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种对位检测方法，其特征在于该对位检测方法包括：提供芯片，其中该芯片具有芯片对准标记；提供透光基板，其中该透光基板设有基板对准标记；对位该芯片的该芯片对准标记于该透光基板的该基板对准标记上；利用第一检测单元来穿透过该芯片，而撷取该芯片对准标记的位置；利用第二检测单元来穿透过该透光基板，而撷取该基板对准标记的位置；以及比对该芯片对准标记的位置与该基板对准标记的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电（苏州）有限公司;友达光电股份有限公司，未经友达光电（苏州）有限公司;友达光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810202473.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：断塞流捕集系统
- 下一篇：U型注塑弯头及加工方法
