[发明专利]可模拟系统测试的芯片测试分类机无效

专利信息
申请号: 200810213606.8 申请日: 2008-08-22
公开(公告)号: CN101655529A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 林源记;谢志宏 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周长兴
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是关于一种可模拟系统测试的芯片测试分类机,先于机台上设有温控室,温控室的底板设置一测试座,机械臂的下压杆下方组设有真空吸嘴用以吸取待测芯片,然后将下压杆下压深入温控室内使得待测芯片对应抵紧测试座并与模拟系统电路板电性连接,同时下压杆中段的盖板也盖合密闭住温控室的上开口,使温控室内形成一密闭容室。此时,通入高温或低温气体至温控室内,可令待测芯片在高温或低温环境下,分别通过模拟系统电路板作系统等级的模拟测试。若于温控室增设导出管快速抽出温控室内气体,更可缩短不同温度变换时的系统测试时程。
搜索关键词: 模拟 系统 测试 芯片 分类机
【主权项】:
1、一种可模拟系统测试的芯片测试分类机,包括:一机台,包括有至少一气体供应装置;一温控室,设置于该机台上,该温控室包括有一底板、一上开口、及至少一导入管,该底板上设有至少一测试座,该上开口对应位于该至少一测试座上方,该至少一导入管连通于该温控室与该至少一气体供应装置之间;一模拟系统电路板,电性连接至该温控室的该至少一测试座,该模拟系统电路板上组设有至少一外围组件;以及一机械臂,包括有一下压杆、及一取放装置,该下压杆下方组设有该取放装置,该下压杆中段组设有一盖板,该下压杆向下伸入该上开口内,该盖板对应盖合密闭住该温控室的该上开口。
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