[发明专利]一种集成电路板级自动测试系统无效
| 申请号： | 200810239968.4 | 申请日： | 2008-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN101750578A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张琳;刘炜;石志刚;吉国凡;王慧;金兰;宋奕霖 | 申请（专利权）人： | 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 陈曦 |
| 地址： | 100088 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路板级自动测试系统，包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板；其中，计算机连接GPIB接口和USB接口，GPIB接口连接自动分选机，自动分选机和USB接口都连接测试接口板，测试接口板连接被测器件。该集成电路板级自动测试系统具有使用方便、成本低廉、自动化程度高等特点。同时，该集成电路板级自动测试系统还具有高效的并行测试能力，通过有效地平衡设计与测试资源，缩短了测试时间，为用户提供了更为有效的测试解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 电路板 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种集成电路板级自动测试系统，其特征在于：所述集成电路板级自动测试系统包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板；其中，所述计算机连接所述GPIB接口和USB接口，所述GPIB接口连接所述自动分选机，所述自动分选机和所述USB接口都连接所述测试接口板，所述测试接口板连接被测器件。
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