[发明专利]集成电路测试探针卡的结构无效
| 申请号： | 200810304545.6 | 申请日： | 2008-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN101676733A | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 洪干耀 | 申请（专利权）人： | 汉民测试系统科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人： | 何 为 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种集成电路测试探针卡的结构，该探针卡内部的电路板的至少一侧表面设有凸部，该凸部表面设有数内接点，而该电路板的另一侧表面则设有数外接点，且于电路板内设有导电线路衔接于各内、外接点之间，使各外接点可经由导线与外部的测试电路形成电连接；该电路板于临凸部的一侧可另经由一固定环垫结合一探针固定装置，于该固定环垫上设有一镂空部结合于该凸部周围，而探针固定装置则可夹持复数探针的一端，以利于与各内接点接触，且各探针的另一端与待测试的集成电路芯片各接脚稳定抵触而形成电连接，其结构简易、成本低廉且电路讯号传输质量佳。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 探针 结构 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试探针卡的结构，至少包括一电路板、一固定环垫、及一探针固定装置，该电路板上设有数内接点，该电路板的一侧表面设有数外接点，经由导线与外部的测试电路形成电连接，而于电路板内则设有导电线路衔接于各内、外接点之间；该固定环垫设有一镂空部；该探针固定装置经由该固定环垫结合于电路板一侧，且该探针固定装置固定数探针的一端，并使该探针与各内接点接触，各探针的另一端则用以与待测试的集成电路芯片各接脚接触形成电连接；其特征在于：所述电路板另一侧表面设有凸部，所述内接点设于该凸部表面，该固定环垫的镂空部结合于该电路板的凸部周围。
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